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GB/T 41805-2022《光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》

Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging

标准类型:国家标准

标准属性:推荐性

标准状态:现行

国家标准《光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》由TC103(全国光学和光子学标准化技术委员会)归口,TC103SC5(全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会)执行,主管部门为中国兵器工业集团公司。

主要起草单位浙江大学、杭州晶耐科光电技术有限公司、中国科学院大连化学物理研究所、中国工程物理研究院激光聚变研究中心、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国兵器工业标准化研究所、江苏皇冠新材料科技有限公司、福建福特科光电股份有限公司。

主要起草人杨甬英 、曹频 、李刚 、杨李茗 、刘旭 、刘世杰 、胡丽丽 、徐晓飞 、李炜娜 、麦启波 、黄木旺 。

基础信息

标准号:GB/T 41805-2022发布日期:2022-10-12实施日期:2023-05-01标准类别:方法中国标准分类号:N05国际标准分类号:81.040.01 归口单位:全国光学和光子学标准化技术委员会执行单位:全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会主管部门:中国兵器工业集团公司

起草单位

浙江大学中国科学院大连化学物理研究所中国科学院上海光学精密机械研究所江苏皇冠新材料科技有限公司杭州晶耐科光电技术有限公司中国工程物理研究院激光聚变研究中心中国兵器工业标准化研究所福建福特科光电股份有限公司

起草人

杨甬英曹频刘旭刘世杰李炜娜麦启波李刚杨李茗胡丽丽徐晓飞黄木旺

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