GB/T 43227-2023《宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法》

Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：现行

国家标准《宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准委。

主要起草单位北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。

主要起草人赵元富、姚全斌、林鹏荣、冯小成、荆林晓、李洪剑、付明洋、林建京、曹燕红、刘思嘉、刘征宇。

基础信息

标准号：GB/T 43227-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：A29国际标准分类号：49.040 归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会执行单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会主管部门：国家标准委

起草单位

北京微电子技术研究所中国航天电子技术研究院

起草人

赵元富姚全斌荆林晓李洪剑曹燕红刘思嘉林鹏荣冯小成付明洋林建京刘征宇

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