GB/T 17444-1998《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》

The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：废止

国家标准《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国科学院上海技术物理研究所。

基础信息

标准号：GB/T 17444-1998发布日期：1998-07-30实施日期：1999-05-01废止日期：2014-04-15标准类别：基础中国标准分类号：L52国际标准分类号：31.260 归口单位：工业和信息化部（电子）执行单位：工业和信息化部（电子）主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所

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