GB/Z 43684-2024《纳米技术光栅的描述、测量和尺寸质量参数》

Nanotechnologies—Description, measurement and dimensional quality parameters of gratings

标准类型：国家标准

标准属性：指导性技术文件

标准状态：现行

国家标准《纳米技术光栅的描述、测量和尺寸质量参数》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位中国计量科学研究院、北京大学、清华大学、苏州苏大维格科技集团股份有限公司、广纳四维（广东）光电科技有限公司。

主要起草人李伟、李适、朱振东、李群庆、陈林森、李晓军、高思田、李琪、施玉书、黄鹭、史瑞、乔文、华鉴瑜。

基础信息

标准号：GB/Z 43684-2024发布日期：2024-03-15实施日期：2024-10-01标准类别：方法中国标准分类号：L04国际标准分类号：07.120 归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会主管部门：中国科学院

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC TS 62622:2012。采标中文名称:纳米技术人造光栅的描述，测量和尺寸质量参数。

起草单位

中国计量科学研究院清华大学广纳四维（广东）光电科技有限公司北京大学苏州苏大维格科技集团股份有限公司

起草人

李伟李适陈林森李晓军施玉书黄鹭华鉴瑜朱振东李群庆高思田李琪史瑞乔文

相近标准(计划)

20240660-T-491 纳米技术外泌体形貌和尺寸测量原子力显微术GB/T 44234-2024 纳米技术纳米材料与气体表界面作用热力学参数和动力学参数测量谐振微质量法GB/T 5373-2019 摩托车和轻便摩托车尺寸和质量参数的测定方法GB/T 21153-2007 土方机械尺寸、性能和参数的单位与测量准确度GB/T 15972.20-2021 光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序光纤几何参数GB/T 15972.21-2008 光纤试验方法规范第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序涂覆层几何参数JB/T 10080.1-2011 光栅线位移测量系统第1部分：光栅数字显示仪表SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算JB/T 10080.2-2011 光栅线位移测量系统第2部分：光栅线位移传感器HJ/T 1-1992 气体参数测量和采样的固定位装置

上一篇： 主要切花产品采后处理技术规程

下一篇： 林草物联网标识分配规则