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GB/T 4937.34-2024《半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环》

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 34:Power cycling

标准类型:国家标准

标准属性:推荐性

标准状态:现行

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。

主要起草人张艳杰 、崔万国 、裴选 。

基础信息

标准号:GB/T 4937.34-2024发布日期:2024-03-15实施日期:2024-07-01标准类别:方法中国标准分类号:L40国际标准分类号:31.080.01 归口单位:工业和信息化部(电子)执行单位:工业和信息化部(电子)主管部门:工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-34:2010。采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人

张艳杰崔万国裴选

相近标准(计划)

20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环20201540-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第10部分:机械冲击20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验20231752-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性20201539-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法20201546-T-339 半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法20201541-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分:稳态加速度20193135-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第7部分:内部水汽测量和其他残余气体分析20201542-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分:粒子碰撞噪声检测(PIND)

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