GB/T 44075-2024《纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法》

Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：现行

国家标准《纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司。

主要起草人郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢荻、王震。

基础信息

标准号：GB/T 44075-2024发布日期：2024-05-28实施日期：2024-12-01标准类别：方法中国标准分类号：A42国际标准分类号：17.040.20 归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会主管部门：中国科学院

起草单位

苏州纳微科技有限公司苏州大学中国检验检疫科学研究院苏州市计量测试院中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司

起草人

郭清华朱建荣方丹姜江王震姚建林袁亚仙席广成卢荻

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