300mm polished monocrystalline silicon wafers
标准类型：国家标准
标准属性：推荐性
标准状态：现行
国家标准《300mm 硅单晶抛光片》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位有研半导体材料股份有限公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所。
主要起草人闫志瑞 、孙燕 、盛方毓 、卢立延 、张果虎 、向磊 。
标准号：GB/T 29506-2013发布日期：2013-05-09实施日期：2014-02-01标准类别：产品中国标准分类号：H82国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委
有研半导体材料股份有限公司中国有色金属工业标准计量质量研究所
闫志瑞孙燕张果虎向磊盛方毓卢立延
GB/T 29504-2013 300mm 硅单晶GB/T 44375-2024 300mm半导体设备装载端口要求GB/T 29508-2013 300mm 硅单晶切割片和磨削片20250822-T-469 200mm碳化硅单晶抛光片20240494-T-469 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片GB/T 30656-2023 碳化硅单晶抛光片SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法JB/T 2436.2-1994 导线用铜压接端头 第2部分:10～300mm导线用铜压接端头
CMA检测资质
数据严谨精准
独立公正立场
服务领域广泛
微析研究院客户服务流程
在国内拥有众多的合作检测实验室，专业从事产品成分检测、
配方分析、未知物质分析、理化性能测试、工业问题诊断等技术服务！
同时可为客户提供全方位的检测咨询服务，让检测更简单。
拨打热线
156-0036-6678
欢迎来公司实验室考察
或与工程师电话沟通业务需求
微析院所工程师上门取样
或自寄送样品到微析指定院所
样品分析/检测
技术工程师开始制作分析汇总报告
寄送报告，工程师主动售后回访
解决您的售后疑惑
服务优势
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
院所资讯
行业百科
常见问题
2025-04-10
2025-07-14
2025-05-26
2025-04-10
2025-04-10
2025-05-26
2025-04-10
2025-05-09
2025-04-10
2025-04-10
2025-05-09
2025-04-10
2025-05-09
2025-05-09
2025-06-16
2025-04-10
2025-06-06
2025-06-13
2025-05-09
2025-05-09
2025-05-09
2025-07-10
2025-05-25
2025-04-10
2025-07-06
2025-06-27
2025-05-09
2025-05-09
2025-05-28
2025-05-09
2025-08-02
2025-06-16
2025-05-09
2025-05-09
2025-05-09
2025-07-02
2025-06-15
2025-05-09
2025-07-28
2025-06-19
CMA检测资质
数据严谨精准
独立公正立场
服务领域广泛
多地实验室
院所团队
院所环境
仪器设备
