GB/T 30860-2014《太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法》

Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：现行

国家标准《太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。

主要起草单位中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心。

主要起草人徐自亮、任皓、陈佳洵、李锐、孙燕、熊金杰等。

基础信息

标准号：GB/T 30860-2014发布日期：2014-07-24实施日期：2015-04-01标准类别：方法中国标准分类号：H21国际标准分类号：77.040 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委

起草单位

中国有色金属工业标准计量质量研究所江苏协鑫硅材料科技发展有限公司特变电工新疆新能源股份有限公司连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心瑟米莱伯贸易（上海）有限公司有研半导体材料股份有限公司洛阳鸿泰半导体有限公司

起草人

徐自亮任皓孙燕熊金杰陈佳洵李锐

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