Nanotechnologies—Electron microscopy imaging of noble metal nanoparticles—High angle annular dark field imaging method
标准类型：国家标准
标准属性：推荐性
标准状态：现行
国家标准《纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
主要起草单位国家纳米科学中心、北京粉体技术协会。
主要起草人齐笑迎 、常怀秋 、朱晓阳 、贺蒙 、高原 。
标准号：GB/T 34831-2017发布日期：2017-11-01实施日期：2018-05-01标准类别：方法中国标准分类号：N33国际标准分类号：17.180.01;37.020 归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会主管部门：中国科学院
国家纳米科学中心北京粉体技术协会
齐笑迎常怀秋高原朱晓阳贺蒙
20240042-Z-491 纳米技术 纳米颗粒数量浓度测量指南GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法20241480-T-491 纳米技术 基于NADH氧化的纳米颗粒光催化活性测试20242389-T-491 纳米技术 铁氧体纳米颗粒磁共振弛豫效能测试方法GB/T 44931-2024 纳米技术吸入毒性研究中金属纳米颗粒制备蒸发-冷凝法
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