GB/T 35007-2018《半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法》

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：现行

国家标准《半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。

主要起草人陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科。

基础信息

标准号：GB/T 35007-2018发布日期：2018-03-15实施日期：2018-08-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

成都振芯科技股份有限公司工业和信息化部电子第五研究所深圳市众志联合电子有限公司工业和信息化部电子工业标准化研究院深圳市国微电子有限公司中国电子科技集团公司第二十九研究所

起草人

陈雁罗彬李锟蔡志刚郭超王会影邬海忠钟科

相近标准(计划)

20242556-T-339 半导体集成电路嵌入式存储器测试方法SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理JB/T 5580-1991 半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法SJ/T 11702-2018 半导体集成电路串行外设接口测试方法SJ/T 10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法20250939-T-339 集成电路时钟电路测试方法SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理20233861-T-339 半导体集成电路封装术语GB/T 12750-2006 半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）

上一篇： 串行NOR型快闪存储器接口规范

下一篇： 半导体集成电路电平转换器测试方法