GB/T 36613-2018《发光二极管芯片点测方法》

Probe test method for light emitting diode chips

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：现行

国家标准《发光二极管芯片点测方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司。

主要起草人蔡伟智、梁奋、刘秀娟、李国煌、吕艳、金威、邵晓娟、周钢、时军朋。

基础信息

标准号：GB/T 36613-2018发布日期：2018-09-17实施日期：2019-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L45国际标准分类号：31.260 归口单位：工业和信息化部（电子）执行单位：工业和信息化部（电子）主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

三安光电股份有限公司中国电子技术标准化研究院厦门市三安光电科技有限公司广州赛西标准检测研究院有限公司

起草人

蔡伟智梁奋吕艳金威时军朋刘秀娟李国煌邵晓娟周钢

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