GB/T 45114-2024《纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》

Nanotechnologies—Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：即将实施

国家标准《纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位中国计量科学研究院、测试狗（成都）实验检测有限公司、河南科技大学、中铝科学技术研究院有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）、北京智芯微电子科技有限公司、山东省计量科学研究院、清华大学深圳国际研究生院、上海交通大学、中南大学、西南科技大学、南京市计量监督检测院。

主要起草人李旭、任玲玲、张毅、王宇婷、黄鹭、娄花芬、莫永达、曹丛、刘伟丽、李适、马拥军、王俪颖、郭新秋、刘俊杰、赵东艳、梁霄鹏、雷前、高思田、施玉书、崔磊、王亚磊。

基础信息

标准号：GB/T 45114-2024发布日期：2024-12-31实施日期：2025-07-01标准类别：方法中国标准分类号：G 30国际标准分类号：17.180 归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会主管部门：中国科学院

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 21363:2020。采标中文名称:纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布。

起草单位

中国计量科学研究院河南科技大学北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）山东省计量科学研究院上海交通大学西南科技大学测试狗（成都）实验检测有限公司中铝科学技术研究院有限公司北京智芯微电子科技有限公司清华大学深圳国际研究生院中南大学南京市计量监督检测院

起草人

李旭任玲玲黄鹭娄花芬刘伟丽李适郭新秋刘俊杰雷前高思田王亚磊张毅王宇婷莫永达曹丛马拥军王俪颖赵东艳梁霄鹏施玉书崔磊

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