GB/T 4937.11-2018《半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法》

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：现行

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。

主要起草人张天福、高金环、彭浩、李树杰、于学东、崔波、裴选、迟雷、张艳杰。

基础信息

标准号：GB/T 4937.11-2018发布日期：2018-09-17实施日期：2019-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-11:2002。采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第11部分:快速温度变化双液槽法。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人

张天福高金环于学东崔波张艳杰彭浩李树杰裴选迟雷

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