156-0036-6678

国家标准

数据同步自全国标准信息公共服务平台

最后同步于:

GB/T 12964-2018《硅单晶抛光片》

Monocrystalline silicon polished wafers

标准类型:国家标准

标准属性:推荐性

标准状态:现行

国家标准《硅单晶抛光片》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。

主要起草单位有研半导体材料有限公司、上海合晶硅材料有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、浙江海纳半导体有限公司、浙江省硅材料质量检验中心、有色金属技术经济研究院、天津市环欧半导体材料技术有限公司。

主要起草人孙燕 、卢立延 、徐新华 、张海英 、楼春兰 、杨素心 、潘金平 、张雪囡 。

基础信息

标准号:GB/T 12964-2018发布日期:2018-09-17实施日期:2019-06-01全部代替标准:GB/T 12964-2003标准类别:产品中国标准分类号:H82国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

有研半导体材料有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司浙江省硅材料质量检验中心天津市环欧半导体材料技术有限公司上海合晶硅材料有限公司浙江海纳半导体有限公司有色金属技术经济研究院

起草人

孙燕卢立延楼春兰杨素心徐新华张海英潘金平张雪囡

相近标准(计划)

20250822-T-469 200mm碳化硅单晶抛光片20240494-T-469 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范GB/T 30656-2023 碳化硅单晶抛光片GB/T 29506-2013 300mm 硅单晶抛光片SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法GB/T 41325-2022 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

上一篇: 铁精矿
下一篇: 铑粉

热门服务

微析研究院客户服务流程

在国内拥有众多的合作检测实验室,专业从事产品成分检测、

配方分析、未知物质分析、理化性能测试、工业问题诊断等技术服务!

同时可为客户提供全方位的检测咨询服务,让检测更简单。

拨打热线

156-0036-6678

1.确定需求

欢迎来公司实验室考察

或与工程师电话沟通业务需求

2.寄送样品

微析院所工程师上门取样

或自寄送样品到微析指定院所

3.分析检测

样品分析/检测

技术工程师开始制作分析汇总报告

4.出具报告

寄送报告,工程师主动售后回访

解决您的售后疑惑

客户案例

  • 产品检测
  • 成分分析
  • 性能检测
  • 产品研发

服务优势

CMA检测资质

微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。

数据严谨精准

提供精准的数据支持,建立了完善的数据管理系统,对每个检测项目数据进行详细记录与归档,以便随时查阅追溯。

独立公正立场

严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。

服务领域广泛

服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。

CMA检测资质

微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。

数据严谨精准

提供精准的数据支持,建立了完善的数据管理系统,对每个检测项目数据进行详细记录与归档,以便随时查阅追溯。

独立公正立场

严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。

服务领域广泛

服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。

院所资讯

行业百科

常见问题

CMA检测资质

数据严谨精准

独立公正立场

服务领域广泛

多地实验室

院所团队

院所环境

仪器设备

微析院所技术人员6
微析院所技术人员5
微析院所技术人员4
微析院所技术人员3
微析院所技术人员2
微析院所技术人员1
微析院所实验室6
微析院所实验室5
微析院所实验室4
微析院所实验室3
微析院所实验室2
微析院所实验室1
紫外可见分光光度计UVVis
核磁共振波谱仪NMR
X射线光电子能谱仪XPS
傅立叶变换红外光谱仪FTIR
电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES
透射电子显微镜TEM