Nanotechnology—Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy
标准类型:国家标准
标准属性:推荐性
标准状态:现行
国家标准《纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。
主要起草单位上海交通大学、纳米技术及应用国家工程研究中心。
主要起草人李慧琴 、金承钰 、梁齐 、何丹农 、韦菲菲 。
标准号:GB/T 36969-2018发布日期:2018-12-28实施日期:2018-12-28标准类别:方法中国标准分类号:J04国际标准分类号:17.040.20 归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会执行单位:全国纳米技术标准化技术委员会主管部门:中国科学院
上海交通大学纳米技术及应用国家工程研究中心
李慧琴金承钰韦菲菲梁齐何丹农
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